醫(yī)用手術(shù)服靜電衰減測試儀主要是用于實(shí)驗(yàn)室以分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時(shí)該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進(jìn)行靜電特性檢測和監(jiān)測。

　　符合標(biāo)準(zhǔn)：

　　美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)

　　美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)

　　美G軍標(biāo)MIL-B-81705C

　　美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D

　　中國GB 19082

　　中G軍標(biāo)GJB2625

　　主要參數(shù)：

　　環(huán)境溫度測試范圍：0~40度

　　環(huán)境濕度測試范圍：20~35%RH,不結(jié)露

　　高壓電源：H.V(光暈放電電壓)0~10kVCAL(校準(zhǔn)電壓)0~4kV

　　輸出信號：分析儀端口（分析儀）、SYNC端口（示波器）電壓0~±10V精度約10%

　　試驗(yàn)臺旋轉(zhuǎn)速度：每分鐘1000轉(zhuǎn)

　　電*度調(diào)整：刻度尺及高度調(diào)整旋鈕

　　電源：AC 100V±10%,50Hz

　　技術(shù)指標(biāo)：

　　1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試，金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料；

　　2.選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管；

　　3.選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上，還可以測試粉體和液體靜電衰減時(shí)間；

　　4.配套法拉第測試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)；

　　5.法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷；

　　6.STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容，通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常；

　　7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測試粉體、液體和固體試樣；

　　8.顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中)，彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程。